電子情報通信
P16-040
特許出願日 平成29年1月23日
発明者 岩井 智昭 ほか
発明者の紹介 理工研究域 機械工学系 講師
発明の名称 摩擦摩耗試験機
発明の用途/応用分野 人工関節など,生体材料の摩擦摩耗測定
概要 生体関節の摩擦摩耗測定に適した摩擦摩耗試験機を提案する。簡便な構造で負荷と除荷が繰り返し生じる生体関節の動きに対応する。
P16-016
特許出願日 平成28年9月27日
発明者 髙橋 康史
発明者の紹介 理工研究域 電子情報学系 准教授
発明の名称 走査型プローブ顕微鏡及びその制御方法 
発明の用途/応用分野 SICM-SECM
概要 走査型プローブ顕微鏡による連続イメージングにおいて、直近の画像を参照し次の画像を取得するための計測領域を選択的に限定することに特徴のあるプローブの走査を制御するためのプログラム。
P16-012
特許出願日 平成28年11月30日
発明者 古寺 哲幸、内橋 貴之、他
発明者の紹介 理工研究域 バイオAFM先端研究センター 准教授
発明の名称 昇温ホルダおよびプローブ顕微鏡
発明の用途/応用分野 走査型プローブ顕微鏡
概要 レーザー透過ガラスにITO薄膜を使用するプローブ顕微鏡用の溶液チャンバーであり、チャンバー内の溶液の温度を溶液プールに配置した熱電対で計測し、ITO薄膜に印加する電流により温度制御を行うことに特徴のある、溶液チャンバー。あらかじめ計測した溶液減少量に応じた速度で低下した溶液を補填するシリンジポンプを備える請求項1に記載の溶液チャンバー。
P16-011
特許出願日 平成28年12月1日
発明者 古寺 哲幸柴田 幹大、内橋 貴之
発明者の紹介 理工研究域 バイオAFM先端研究センター 准教授
発明の名称 走査型プローブ顕微鏡
発明の用途/応用分野 高速原子間力顕微鏡
概要 走査信号の立ち上がりで走査信号を加速し、戻り信号においては位置に移動するまで高速で移動させ、待機する時間を設ける信号によりプローブの走査を制御することに特徴のある走査型プローブ顕微鏡。
P15-098
特許出願日 平成28年5月26日
発明者 佐々木 敏彦
発明者の紹介 人間社会研究域 人間科学系 教授
発明の名称 応力測定方法及び応力測定装置 
発明の用途/応用分野 残留応力計測
概要 回折する性質をもつビームを計測対象物の特定部分に照射し、前記特定部分から反射される回折ビームにより形成される回折環の変形を測定し、測定結果をdiffraction vectorを用いて座標変換を行うことにより回折環を分析する回折環分析方法。
P15-008
特許出願日 (公開日) 平成27年6月29日(平成29年1月19日 特開2017-015468)
発明者 佐々木 敏彦
発明者の紹介 人間社会研究域 人間科学系 教授
発明の名称 X線回折装置
発明の用途/応用分野 残留応力計測
概要 X線を用いた金属やセラミックスの残留応力を回析環を用いて計測する技術。
2016-043
特許出願日 平成28年12月21日
発明者 比江嶋 祐介新田 晃平 ほか
発明者の紹介 理工研究域 自然システム学系 助教、教授
発明の名称 結晶性高分子の劣化測定方法
発明の用途/応用分野 プラスチックの劣化状態の非破壊診断と寿命予測,現場での劣化診断
概要 ラマン分光法を利用することで、ポリエチレンやポリプロピレンなどの樹脂材料における劣化状態を、短時間で非破壊かつ非接触で診断する技術を開発した。
2015-060
特許出願日 平成28年3月11日
発明者 飯山 宏一  ほか
発明者の紹介 理工研究域 電子情報学系 教授
発明の名称 測距装置、及び測距方法
発明の用途/応用分野 工場ラインでの部品組立の検査
基板、薄膜、研磨部品などの表面粗さの検査
概要 ナノ領域からメートル以上の、6桁以上の測定レンジの距離や形状計測が可能な装置を開発した。FMCW光センサに光検出器アレイを用い、アレイ間の干渉信号の位相差を測定することで、ナノ領域での物体形状計測を可能にした。
2015-031
特許出願日 平成28年1月14日
発明者 渡辺 哲陽 ほか
発明者の紹介 理工研究域 機械工学系 准教授
発明の名称 荷重変位測定用アタッチメント
発明の用途/応用分野 簡易な力・硬さセンサ
概要 スマートフォンに,力や柔らかさを測定する機能を追加する安価なアタッチメントを提案する。
2015-015
特許出願日 (公開日) 平成27年7月13日(平成29年1月26日 特開2017-020948)
発明者 南谷保、山田外史
発明者の紹介 環日本海域環境研究センター 研究員、
発明の名称 識別センサ装置
発明の用途/応用分野 紙幣・有価証券等の真贋判定
概要 磁性インクと導電性インクのパターンを同時に検出可能な識別センサ
2014-099
特許出願日 (公開日) 平成27年8月20日(2017年2月23日 特開2017-040555)
発明者 渡辺哲陽米山猛香川博之 ほか
発明者の紹介 理工研究域 機械工学系 准教授,教授,講師
発明の名称 触覚センサ
発明の用途/応用分野 内視鏡向けのセンサ
概要 弾性体の変形とカメラを用いる,3軸の力と測定対象物の剛性を測定可能な触覚センサを提供する。
2014-003
特許出願日 平成26年8月4日
発明者 佐々木 敏彦
発明者の紹介 金沢大学人間社会研究域 人間科学系 教授
発明の名称 渦電流による金属製品の評価方法
発明の用途/応用分野 金属材料の渦電流検査(特にカムシャフトのチル化率など)
概要 本発明は、金属製品の内部品質を渦電流により非破壊的に評価する評価方法に関する。

励磁コイルと検出コイルとからなる貫通型渦電流センサの内部に標準試料を配置し、励磁コイルに所定の励磁周波数を印加し、標準試料を前記貫通型渦電流センサの軸方向又は/及び軸廻り方向に変化させつつ、検出コイルにて検出した電磁気的信号の変化における実成分(ΔX)と虚成分(ΔY)とからΔX-ΔY線図を得るステップと、前記ΔX-ΔY線図において全体の平均から求めた直線に対する各測定点の残差の標準偏差σを得るステップと、前記標準偏差σに対する、評価試料から得られた実成分(ΔX)と虚成分(ΔY)とから求めたΔX-ΔY線図にて得られる対応測定値の比をCEPとし、当該CEPの値に基づいて評価することを特徴とする。

2013-057
特許出願日 (公開日) 平成26年2月26日(2015年9月7日 特開2015-161544 )
発明者 安達 正明
発明者の紹介 金沢大学 理工研究域機械工学系 准教授
発明の名称 振動環境下での波長走査を用いた形状計測方法及び装置
発明の用途/応用分野 生産現場などでの部品検査
概要 複数枚のスペックル干渉像から振動環境下においても部品の3次元形状を求める技術である。
2013-024
特許出願日 平成26年10月17日
発明者 宮﨑 利行、佐々木 敏彦
発明者の紹介 人間社会研究域 人間科学系 博士研究員、教授
発明の名称 回析環分析方法および回析環分析装置
発明の用途/応用分野 金属部品の非破壊検査(車、船、鉄道、プラント、タンク等)
概要 X線回析環の乱れを短時間で正確に補正する。
2013-007
特許出願日 (公開日) 平成25年10月17日(平成27年4月23日 特開2015-078934)
発明者 佐々木 敏彦、宮﨑 利行
発明者の紹介 人間社会研究域 人間科学系 教授、博士研究員
発明の名称 回析環計測装置
発明の用途/応用分野 金属部品の非破壊検査(車、船、鉄道、プラント、タンク等)
概要 X線残留応力測定装置の改良。
2012-044
特許出願日 (公開日) 平成25年11月27日( 2015年6月4日 特開2015-102474 )
発明者 大橋 竜太郎
発明者の紹介 金沢大学 理工研究域 物質化学系 助教
発明の名称 固体NMR装置の測定試料管用インサート及び測定試料管セット
発明の用途/応用分野 固体NMR装置
概要 測定試料管内の測定試料を全量回収して保管することができ、更に固体試料の位置決め用スペーサーが不要な固体NMR装置の測定試料管用インサート及び測定試料管セットを提供する。
2012-025
特許出願日 (公開日) 平成24年9月24日(2014年4月17日 特開2014-066526)
発明者 喜成 年泰立矢 宏
発明者の紹介 理工研究域 機械工学系 教授、教授
発明の名称 触覚センサー
発明の用途/応用分野 被検体の表面をなぞることで、当該被検体の表面構造を認識できる触覚センサー
概要 被検体の表面に接触する接触子と、前記接触子と被検体表面とを相対的に回転運動させる回転制御手段と、前記接触子が被検体表面に接触することにより得られる摩擦係数の計測手段と、前記計測手段により得られた摩擦係数の振動に基づいて被検体の表面構造を解析するための解析手段とを有することを特徴とする。 
2011-063
特許出願日 (公開日) 平成23年5月26日( 2012年12月13日 特開2012-24727 )
発明者 北川 章夫 他
発明者の紹介 金沢大学理工学域電子情報学系 教授
発明の名称 スペクトラムセンサ
発明の用途/応用分野 分光器、色センサ、光センサ、光フィルタ
概要 小型で安価、高速な分光器を提案する。このセンサは回折格子方式より小型で安価、高速であり、カラーフィルタ方式より高精度である。この分光器を半導体製造プロセスを用いて実現する。
2010-068
特許出願日 (公開日) 平成24年2月29日( 2013年9月9日 特開2013-178192 )
発明者 黒堀 利夫
発明者の紹介 金沢大学 人間社会研究域人間科学系 教授
発明の名称 放射線量の二次元測定用ディスク及びそれを用いた放射線量測定装置
発明の用途/応用分野 X線を用いた応力解析や原子力発電所、医療現場における放射線量計
概要 放射線量の二次元測定及び当該放射線量の蓄積情報の読み出しが可能な放射線量測定システムの提供を目的とする。銀活性リン酸塩ガラス層を用いた小型のディスクに放射線量を記録し、小型の装置で読み取る。またディスクの繰り返し利用も可能である
2010-034
特許出願日 (公開日) 平成22年11月26日(2012年6月14日 特開2012-112849)
発明者 大橋 政司
発明者の紹介 金沢大学 理工研究域 環境デザイン学系 准教授
発明の名称 高精度ブリッジ回路型検出器
発明の用途/応用分野 ひずみゲージ用の回路
概要 ホイートストンブリッジ回路を改良することにより、高精度に抵抗値を測る方法。ひずみゲージの測定精度が上がる。
2009-010
特許出願日 (公開日) 平成21年7月24日(平成25年11月13日 特許第5339253 )
発明者 佐々木 敏彦
発明者の紹介 自然科学研究科 システム創成科学専攻 教授
発明の名称 X線応力測定方法
発明の用途/応用分野 屋外での測定(鉄道・橋梁・その他の社会インフラの機械構造物)
高所(鉄塔・大型構造物)や狭隘部(溝・歯車底・隅肉溶接)
生産ラインでの高速または動的な測定
概要 金属等の表面の結晶の状態を通して材質変化や残留応力を軟X 線の回折を利用して調べる方法であり、リアルタイムで高分解能を実現し、装置の小型化・軽量化・可搬化・低価格化を実現するため、半導体検出器によりX線回折環画像を取得する。さらに、これに適した新開発のデータ解析原理(cosα法)を使って高速の評価を低価格で実現する。溶接、鉄道、生体材料や生産ライン、また薄膜、複合材料、粗大結晶粒材料から微小部、曲面(シャフト、車輪)、狭隘部(歯車、隅肉溶接)などに対して非破壊非接触で行う。
2008-073
特許出願日 (公開日) 平成21年7月24日(2011年2月10日 特開2011-027550)
発明者 佐々木 敏彦
発明者の紹介 人間社会研究域 人間科学系 教授
発明の名称 X線応力測定方法
発明の用途/応用分野 被検物にX線を照射することで、該被検物内に存在する応力(とりわけ3軸応力)を測定するX線応力測定方法
概要 被検物にX線を照射して得られる回折環に基いて3軸応力を測定する方法である。第一の態様では、4つの入射方向(φ0 = 0°、90°、180°、270°)にてX線を斜めに照射して各々回折環を得、φ0 =(0°、180°)では(σx -σz )、τyzを求め、φ0 =(90°、270°)では(σy-σz )、τxz を求め、これらの回折環からτxyσz を求め、もって6個の3軸応力成分を得る。第二の態様では、垂直入射と2つの斜め入射φ0 =(0°、90°)によって回折環を得、垂直入射ではτxz、τyz を、φ0 = 0°では(σx-σz )、τxy を、φ0 = 90°では(σy -σz )、τxy を求め、これらの回折環からσz を求め、もって6個の3軸応力成分を得る。
2008-009
特許出願日 (公開日) 平成20年8月18日( 平成22年2月25日 特開2010-044027 )
発明者 浅川 直紀 他
発明者の紹介 金沢大学 理工研究域機械工学系 准教授
発明の名称 厚さ測定装置および厚さ分布測定方法
発明の用途/応用分野 プレス加工品及び鍛造加工品の金型やプロセスの設計、品質管理など
概要 プレス加工や鍛造加工によって製造された実際の工作物の自由曲面の厚さ分布を、非破壊かつ高速・高密度で自動的に測定するシステムを提供する。実製品の厚さ分布を知ることは、プロセスの最適化や品質管理に重要な情報を提供出来ると考えられるが、従来このような情報を自動的に取得出来るシステムは無く、広い範囲で応用の可能性を持つシステムであると考えられる。
2008-005
特許出願日 (公開日) 平成20年12月26日( 平成24年4月18日 特許第4918679号 )
発明者 安達 正明 他
発明者の紹介 金沢大学 大学院自然科学研究科(工) 教授
発明の名称 透明層の厚さ測定方法及び測定装置
発明の用途/応用分野 自動車のメタリック塗装表面上の焼き付け前のクリア層厚みの評価、表面保護用の透明薄膜の厚み評価
概要 偏光したレーザーシート光を塗装面に当て,長距離顕微鏡で反射光のパターンを撮影して厚みを測定する。顕微鏡画像の2次元カメラによる1回の取り込みで、レーザーシート光と塗装表面の交線上の各点でクリア層の厚みを同時測定出来、点毎のバラツキや平均値評価がし易い。また、非接触の測定方法のため焼き付け前にクリア層の厚み評価をすることも可能となる。
2005-022
特許出願日 (公開日) 平成17年3月14日( 2006年9月21日 特開2006-251690 )
発明者 黒堀 利夫
発明者の紹介 金沢大学 人間社会研究域人間科学系 教授
発明の名称 イメージングプレート並びにそれを用いた放射線画像情報記録読取装置及び放射線画像情報読取方法
発明の用途/応用分野 X線撮像用イメージングプレート
概要 高い空間分解能(1μm以下)、良好な減衰特性を持つ。薄膜化が容易で保護層不要。潮解性、硬度に優れ、安定した膜が得られる。